研究表明激光诱导XUV光谱提高了微量分析的精度和检测限

　　瑞士 Empa 材料科技公司和苏黎世大学的研究人员引入了激光诱导 XUV 光谱 (LIXS) 作为一项新技术，以提高用于材料微量分析的激光诱导击穿光谱 (LIBS) 的精度和检测限。

该研究发表在Spectrochimica Acta B 部分：原子光谱(1) 上。

　　LIXS 在与激光等离子体的早期阶段相关的极紫外 (XUV) 中收集稳定的等离子体发射。

与 LIBS 相比，LIXS 为测定轻元素和卤素提供了更高的精度和检测限，具有高信噪比 (S/N) 和无分馏响应。

XUV 光谱仪的信息容量呈二次方增加。

研究团队讨论了 LIXS 等离子体中特定的电子-离子过程，展示了它如何提高精度和检测限。

该技术在材料科学、矿物学、生物学、空间和远程地球勘探等各个领域具有潜在的应用。

然而，由于基质效应和等离子体闪烁噪声，准确和精确的量化仍然是一个挑战。

　　LIBS 已被广泛用作光学连字技术，用于通过激光诱导等离子体发射检测样品材料的元素指纹。

尽管它对快速微量分析有效，但由于基质效应和等离子体闪烁噪声，准确和精确的量化仍然是一个挑战。

相比之下，LIXS 通过在与激光等离子体的早期阶段相关的 XUV 区域收集稳定的等离子体发射来提高检测限和精度。

该团队证明，与 LIBS 相比，XUV 光谱仪的信息容量成倍增加。

该研究还讨论了 LIXS 等离子体中特定的电子-离子过程，这有助于提高精度和检测限。

该新技术在材料科学、矿物学、

　　LIXS 的工作原理与 LIBS 类似，但它在 XUV 中收集稳定的等离子体发射。

LIXS 使用双脉冲方法，其中包括一个用于烧蚀样品的短波长脉冲和用于激发蒸汽的第二个红外脉冲。

XUV 区域中稳定的等离子体发射与激光等离子体的早期阶段有关。

发射的辐射被光栅分散，然后由电荷耦合器件 (CCD) 相机检测，以提供可以揭示样品元素组成的高分辨率光谱。

LIXS 等离子体中的特定电子离子过程提高了检测限和精度，允许以高信噪比和无分馏响应检测轻元素和卤素。

　　该研究强调，LIXS 的优势在于它能够以高信噪比和无分馏响应确定轻元素和卤素。

然而，由于基质效应和等离子体闪烁噪声，准确和精确的量化仍然是一个挑战。

该团队建议需要进一步研究来克服这些挑战，并将 LIXS 确立为可靠的微量分析技术。

　　总的来说，该研究表明，LIXS 是一种很有前途的技术，可以提高 LIBS 在材料微量分析中的精度和检测限。

它为广泛的领域提供了潜在的好处，但需要进一步的研究来克服现有的挑战。